XRD是一种非破坏性技术，用于确定材料的晶体结构和相纯度。它利用X射线与材料原子之间的相互作用来产生衍射图案，可用于识别相位、晶格参数和结晶度。
SEM是一种成像技术，用于研究材料的表面形态和成分。它使用聚焦的电子束，该束与材料表面相互作用，产生图像。SEM可用于表征样品的形貌、尺寸和元素组成。
TEM是一种高分辨率成像技术，用于研究材料的内部结构和缺陷。它使用一束穿过样品的电子，产生透射图像。TEM可用于研究晶界、位错和纳米结构。
UV-Vis光谱法是一种光学技术，用于研究材料的电子结构和光学性质。它涉及将不同波长的光照射到样品上并测量透射或反射光的强度。UV-Vis光谱法可用于确定带隙、吸收系数和光致发光性质。
PL光谱法是一种光学技术，用于研究材料的发光性质。它涉及将样品激发到更高的能级，然后测量释放的光的波长和强度。PL光谱法可用于研究能级、载流子寿命和缺陷态。
EIS是一种电化学技术，用于研究材料的电化学性质。它涉及将正弦电压施加到样品上并测量电流的响应。EIS可用于表征电学性质，例如电阻、电容和电荷转移阻力。
除了上述方法外，还有其他表征技术可用于研究钙钛矿材料，包括拉曼光谱、原子力显微镜、热重分析和差示扫描量热法。
